環(huán)境應(yīng)力篩選試驗

篩選試驗是一種對產(chǎn)品進行全數(shù)檢驗的非破壞性試驗。其目的是為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔早期失效的產(chǎn)品，以提高產(chǎn)品的使用可靠性。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。

可靠性篩選試驗的特點是：

A. 這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗；

B. 該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個產(chǎn)品的壽命；

C. 不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。淘汰率高，有可能是產(chǎn)品本身的設(shè)計、元件、工藝等方面存在嚴(yán)重缺陷，但也有可能是篩選應(yīng)力強度太高。淘汰率低，有可能產(chǎn)品缺陷少，但也可能是篩選應(yīng)力的強度和試驗時間不足造成的。

篩選試驗可以在元件、器件、連接器等產(chǎn)品或整機系統(tǒng)中進行，根據(jù)要求不同可以有不同的應(yīng)力篩選試驗，環(huán)境應(yīng)力篩選的主要試驗為：電應(yīng)力篩選：   加電工作試驗、加電加負(fù)荷試驗

溫度應(yīng)力篩選： 高溫、低溫、高溫工作或低溫工作

環(huán)境應(yīng)力篩選： 溫度變化

機械應(yīng)力篩選： 沖擊或振動

其他篩選：     參數(shù)篩選、一致性篩選

篩選試驗也可分為普通篩選

參照標(biāo)準(zhǔn)：

MIL-STD-2164-85

GJB1032－90  “電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法”

GJB451-90

MIL-STD-721C-81

MIL-STD-785B-80